商品描述： 工作原理 ：    WKL-702 顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學顯微鏡、數(shù)字 CCD 攝像機和顆粒圖像處理...

商家品牌：上海儀電物光

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商品描述： 工作原理 WKL-722粉塵形貌分散度測試儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行粉塵分散度分析和粒度測量的粉塵分析系統(tǒng)，由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和粉塵分散度處理分析軟件組成。...

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商品描述：     采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。     顆粒測試...

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商品描述： 工作原理：    采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。    顆粒測試的數(shù)據(jù)...

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商品描述： 工作原理：      采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。  顆粒測試的數(shù)...

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商品描述： 工作原理：      采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。   &nb...

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商品描述： 采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。     顆粒測試的數(shù)據(jù)計算一般分為無約束...

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商品描述： 激光粒度儀采用全量程米氏散射理論。 1、測量范圍：0.05~800微米 2、準確性誤差：〈±1%（國家標準物質(zhì)D50）      重復性偏差：〈±1%（國家標準物質(zhì)D50）     &nb...

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商品描述： 分析儀采用全量程米氏散射理論。 1、測量范圍：0.02~1200微米 2、準確性誤差：〈±1%（國家標準物質(zhì)D50）        重復性偏差：〈±1%（國家標準物質(zhì)D50）    ...

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商品描述： 采用全量程米氏散射理論 1、測量范圍：0.1~600微米 2、準確性誤差：〈±1%（國家標準物質(zhì)D50）       重復性偏差：〈±1%（國家標準物質(zhì)D50）      &n...

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