商品描述： 工作原理 ：    WKL-702 顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字 CCD 攝像機(jī)和顆粒圖像處理...

商家品牌：上海儀電物光

   來(lái)電有驚喜

商品描述： 工作原理 WKL-722粉塵形貌分散度測(cè)試儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行粉塵分散度分析和粒度測(cè)量的粉塵分析系統(tǒng)，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和粉塵分散度處理分析軟件組成。...

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商品描述：     采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。     顆粒測(cè)試...

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商品描述： 工作原理：    采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。    顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)...

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商品描述： 工作原理：      采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。  顆粒測(cè)試的數(shù)...

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商品描述： 工作原理：      采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。   &nb...

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   來(lái)電有驚喜

商品描述： 采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。     顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為無(wú)約束...

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商品描述： 激光粒度儀采用全量程米氏散射理論。 1、測(cè)量范圍：0.05~800微米 2、準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）      重復(fù)性偏差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）     &nb...

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   來(lái)電有驚喜

商品描述： 分析儀采用全量程米氏散射理論。 1、測(cè)量范圍：0.02~1200微米 2、準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）        重復(fù)性偏差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）    ...

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商品描述： 采用全量程米氏散射理論 1、測(cè)量范圍：0.1~600微米 2、準(zhǔn)確性誤差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）       重復(fù)性偏差：〈±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）      &n...

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